Parakristal

Parakristalni materijali imaju kristalne rešetke koje su uređene na kratkim rastojanjima (poput faza tečnog kristala). Njima nedostaje uređenost na dužim rastojanjima u bar jednom pravcu.^[1]

Uređivanje je regularnost u kojoj se atomi javljaju u pozicijama definisanim predvidivom rešetkom. U visoko uređenom, perfektnom kristalnom materijalu, ili jednobraznom kristalu, lokacija svakog atoma strukture se može precizno opisati u odnosu na izabrani koordinatni početak. U neuređenoj strukturi kao što je tečnost ili amorfni materijal, lokacija prvog i možda drugog najbližeg susednog atoma se mogu opisati u odnosu na koordinatni početak (sa određenim stepenom neizvesnosti), i sposobnost predviđanja lokacija se brzo gubi sa povećanjem razdaljine. Rastojanje na kojem se lokacije atoma mogu predvideti se naziva korelaciona dužina $\xi$ . Parakristalni materijal manifestuje korelaciju koja je između amorfne i kristalne.

Primarni i najdostupniji izvori informacija o kristalnosti su rendgenska strukturna analiza i elektronska kriomikroskopija.^[2] Druge tehnike su često neophodne za određivanje kompleksne strukture parakristalnih materijala, kao što je flaktuaciona elektronska mikroskopija^[3] u kombinaciji sa modelovanjem gustine elektronskih i vibracionih stanja.^[4]

Reference[уреди | уреди извор]

^ Voyles, P. M.; Zotov, N.; Nakhmanson, S. M.; Drabold, D. A.; Gibson, J. M.; Treacy, M. M. J.; Keblinski, P. (2001). „Structure and physical properties of paracrystalline atomistic models of amorphous silicon”. Journal of Applied Physics. 90 (9): 4437—4451. Bibcode:2001JAP....90.4437V. doi:10.1063/1.1407319.
^ Berriman J. A., Li S., Hewlett, L. J., Wasilewski, S., Kiskin, F. N., Carter, T., Hannah, M. J., Rosenthal, P. B. (29. 9. 2009). „Structural organization of Weibel-Palade bodies revealed by cryo-EM of vitrified endothelial cells”. Proceedings of the National Academy of Sciences. 106 (41): 17407—17412. Bibcode:2009PNAS..10617407B. doi:10.1073/pnas.0902977106.
^ Biswas, Parthapratim; Atta-Fynn, Raymond; Chakraborty, S.; Drabold, D. A. (2007). „Real space information from fluctuation electron microscopy: Applications to amorphous silicon”. Journal of Physics: Condensed Matter. 19 (45). Bibcode:2007JPCM...19S5202B. arXiv:0707.4012 . doi:10.1088/0953-8984/19/45/455202.
^ Nakhmanson, S. M.; Voyles, P. M.; Mousseau, Normand; Barkema, G. T.; Drabold, D. A. (2001). „Realistic models of paracrystalline silicon”. Physical Review B. 63 (23): 235207. Bibcode:2001PhRvB..63w5207N. doi:10.1103/PhysRevB.63.235207. hdl:1874/13925.

Vidi još[уреди | уреди извор]

[1] Voyles, P. M.; Zotov, N.; Nakhmanson, S. M.; Drabold, D. A.; Gibson, J. M.; Treacy, M. M. J.; Keblinski, P. (2001). „Structure and physical properties of paracrystalline atomistic models of amorphous silicon”. Journal of Applied Physics. 90 (9): 4437—4451. Bibcode:2001JAP....90.4437V. doi:10.1063/1.1407319.

[2] Berriman J. A., Li S., Hewlett, L. J., Wasilewski, S., Kiskin, F. N., Carter, T., Hannah, M. J., Rosenthal, P. B. (29. 9. 2009). „Structural organization of Weibel-Palade bodies revealed by cryo-EM of vitrified endothelial cells”. Proceedings of the National Academy of Sciences. 106 (41): 17407—17412. Bibcode:2009PNAS..10617407B. doi:10.1073/pnas.0902977106.

[3] Biswas, Parthapratim; Atta-Fynn, Raymond; Chakraborty, S.; Drabold, D. A. (2007). „Real space information from fluctuation electron microscopy: Applications to amorphous silicon”. Journal of Physics: Condensed Matter. 19 (45). Bibcode:2007JPCM...19S5202B. arXiv:0707.4012 . doi:10.1088/0953-8984/19/45/455202.

[4] Nakhmanson, S. M.; Voyles, P. M.; Mousseau, Normand; Barkema, G. T.; Drabold, D. A. (2001). „Realistic models of paracrystalline silicon”. Physical Review B. 63 (23): 235207. Bibcode:2001PhRvB..63w5207N. doi:10.1103/PhysRevB.63.235207. hdl:1874/13925.

[1]

[2]

[3]

[4]